Tecnogeo participa en la Jornada técnica de Leica en el ICC

La jornada consistorá en una sesión de trabajo sobre las aplicaciones del Láser Escáner y su gran aportación a la captura masiva de datos y al posterior tratamiento de la información. Contará con la participación de destacados ponentes, usuarios de nuestras tecnologías, representantes de empresas e instituciones líderes en nuestro sector.

  • Fecha: Jueves, 20 de septiembre de 2012
  • Lugar: Sala de actos del Institut Cartogràfic de Catalunya Dirección: Parc de Montjüic , s/n – 08038 Barcelona

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